Використання статичних методів при сертифікаційних випробуваннях інтегрованих мікросхем — Електронна бібліотека НУ «Запорізька політехніка»

•

[На рівень вище] [Головна] [Результати пошуку]

Томашевський О.В., Погосов В.В., Сніжной Г.В.
Використання статичних методів при сертифікаційних випробуваннях інтегрованих мікросхем

УДК: 621.396.6
Автори: Томашевський О.В., Погосов В.В., Сніжной Г.В.
Джерело: Радіоелектроніка. Інформатика. Управління
Номер журнала: № 1
Рік видання: 2009
Мова: Українська
Вид документа: Стаття періодики

Анотація:

Проведено аналіз видів випробувань інтегрованих мікросхем та існуючих планів їх контролю. Вибрано показники надійності та плани контролю для включения у програму сертифікаційних випробувань. Запропоновано адекватні процедури статистичної обробки результатів випробувань.

Ключові слова:

мікросхеми, микросхемы

Файл документа доступний читачам бібліотеки: увійдіть або зареєструйтесь.