Поверхностный стресс и контактная разность потенциалов упруго-деформированных граней АІ, Си, Аи, Ni и Ті кристаллов вычислены с помощью самосогласованного метода Хартри-Фока-Кона-Шема. Расчеты демонстрируют уменьшение/увеличение работы выхода при растяжении/сжатии металлического кристалла. Результаты вычислений указывают, что измерения методом Кельвина контактной разности потенциалов деформированной поверхности соответствуют не изменению работы выхода злектронов, а изменению поверхностного значения эффективного потенциала. Полученные величины стресса, работы выхода и контактной разности потенциалов находятся в хорошем согласии с результатами вычислений из первых принципов.

метод Кельвіна, метод Кельвина