Невлюдов И. Ш., Шостак Б. А., Бабай О. Н., Юрьева С. В.
Диагностика микросхем памяти в микропроцессорных устройствах
|
УДК: 621.7.073-52
Автори: Невлюдов И. Ш., Шостак Б. А., Бабай О. Н., Юрьева С. В.
Джерело:
Радіоелектроніка. Інформатика. Управління
Номер журнала: № 1
Рік видання: 2010
Мова:
Російська
Вид документа:
Стаття періодики
| Анотація: |
Рассмотрен новый метод диагностирования работы микросхем памяти, который позволяет проводить диагностику в процессе эксплуатации запоминающих устройств. Приведено описание принципа функционирования аппаратной части, а также описана структура программного обеспечения, позволяющего реализовать разработанный метод диагностики микросхем памяти. |
|
|
Файл документа доступний читачам бібліотеки: увійдіть або зареєструйтесь.
|